描述:?jiǎn)谓榻B局部放電測(cè)試系統(tǒng)在電場(chǎng)作用下,絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電,但尚未擊穿,(即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒(méi)有擊穿)。這種現(xiàn)象稱(chēng)之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上,也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部,發(fā)生在表面的稱(chēng)為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱(chēng)為內(nèi)部局部放電。
局部放電測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)介紹
本目錄是由上海徐吉電氣有限公司為您精心提供的:
局部放電測(cè)試系統(tǒng)
局部放電的定義及產(chǎn)生原因
在電場(chǎng)作用下,絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電,但尚未擊穿,(即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒(méi)有擊穿)。這種現(xiàn)象稱(chēng)之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上,也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部,發(fā)生在表面的稱(chēng)為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱(chēng)為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電,稱(chēng)之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義,指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電,局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種:
產(chǎn)品用途
GDJF2006 局部放電檢測(cè)分析系統(tǒng)(局放儀)由三大模塊構(gòu)成:信號(hào)處理模塊,隔離模塊,采集處理模塊。根據(jù)系統(tǒng)連接圖,檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)檢出并送到信號(hào)處理模塊,信號(hào)處理模塊完成將局部放電信號(hào)整理、放大、整形等功能后將局部放電信號(hào)送往隔離模塊,隔離模塊將計(jì)算機(jī)采集處理模塊和信號(hào)處理模塊隔開(kāi),防止它們之間互相干擾,zui后由采集處理模塊完成對(duì)局部放電信號(hào)的采集.處理.分析和顯示
可測(cè)試品的電容量范圍 | 6pf~250μf |
檢測(cè)靈敏度 | <0.02pc(電容50pf時(shí)) |
放大器 | 3db低端頻率f1 10、20、30。50。80kHz任選,3db頻率fh 100 、200、300、400、500kHz任選 |
增益調(diào)節(jié)范圍>120db,檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性<1db | |
時(shí)間窗 | 窗寬1о~360о,窗位置可任意旋轉(zhuǎn) |
試驗(yàn)電壓表 | 0~200kV,數(shù)字表顯示時(shí)誤差<3%F.S |
采集通道 | 4通道/卡 |
輸入阻抗 | 1MΩ |
采集卡zui高采樣率 | 20MHz |
AD分辨率12BIT。直流*0.2% | |
每通道采樣長(zhǎng)度 | 8M |
觸發(fā)方式 | 手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā) |
采集卡帶寬 | 3MHz(-3DB) |
重量 | 約15kg |
與局放儀相關(guān)的三種典型的試品的試驗(yàn)線路:
(一)并聯(lián)法 (二)串聯(lián)法 (三)平衡法
值得提出的是:由于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)條件的限制(找到兩個(gè)相似的試品且要保證一個(gè)試品無(wú)放電不太容易),所以在現(xiàn)場(chǎng)平衡法比較難實(shí)現(xiàn),另外,由于采用串聯(lián)法時(shí),如果試品擊穿,將會(huì)對(duì)設(shè)備造成比較大的損害,所以出于對(duì)設(shè)備保護(hù)的想法,在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)一般采用并聯(lián)法。
采用并聯(lián)法的整個(gè)系統(tǒng)的接線原理圖。
該系統(tǒng)采用脈沖電流法檢測(cè)高壓試品的局部放電量,由控制臺(tái)控制調(diào)壓器和變壓器在試品的高壓端產(chǎn)生測(cè)試局放所需的預(yù)加電壓和測(cè)試電壓,通過(guò)無(wú)局放藕合電容器和檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)取出并送至局部放電檢測(cè)儀顯示并判斷和測(cè)量。系統(tǒng)中的高壓電阻為了防止在測(cè)試過(guò)程中試品擊穿而損壞其他設(shè)備,兩個(gè)電源濾波器是將電源的干擾和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分開(kāi),降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的背景干擾。
根據(jù)上述原理圖可以看出,局部放電測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度和整個(gè)系統(tǒng)密切相關(guān),要想順利和準(zhǔn)確的進(jìn)行局部放電測(cè)試,就必須將整個(gè)系統(tǒng)考濾周到,包括系統(tǒng)的參數(shù)選取和連接方式。另外,在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí),由于是驗(yàn)證性試驗(yàn),高壓限流電阻可以省掉。
幾種典型試品的接線原理圖。
(1)電流互感器的局放測(cè)試接線原理圖
(2)電壓互感器的局放測(cè)試接線原理圖
A.工頻加壓方式接線原理圖
B.高頻加壓方式接線原理圖
為了防止電壓互感器在工頻電壓下產(chǎn)生大的勵(lì)磁電流而損壞,高壓電壓互感器一般采取自激勵(lì)的加壓方式。在電壓互感器的低壓側(cè)加一倍頻電源,在電壓互感器的高壓端感應(yīng)出高壓來(lái)進(jìn)行局部放電實(shí)驗(yàn)。這就是通常所說(shuō)的三倍頻實(shí)驗(yàn)。其接線原理圖如下:
(3)高壓電容器.絕緣子的局放測(cè)試接線原理圖
(4) 發(fā)電機(jī)的局放測(cè)試接線原理圖
(5)變壓器的局部放電測(cè)試接線原理圖